º»¹® ¹Ù·Î°¡±â

·Î±×ÀÎ ¹Ù·Î°¡±â


ÆÔÅØ ±â¾÷Á¤º¸

ÆÔÅØ

°ü½É±â¾÷ Ãß°¡Çϰí ä¿ë¼Ò½Ä ¹Þ±â

  • ¹ÝµµÃ¼°Ë»ç °ü·ÃÀåºñ ¼³°è ¹× Á¦Á¶
  • ´ëÇ¥ÀÚ±èÀç¿õ
  • ¼³¸³ÀÏ2005³â 8¿ù 5ÀÏ
  • ¸ÅÃâ¾× 564¾ï 1,991¸¸¿ø (2021)
  • »ç¿ø¼ö 149 ¸í ÀçÁ÷Áß

ȸ»ç¼Ò°³

ȸ»ç¼Ò°³

* ȸ»ç¼Ò°³
ÆÔÅØÀº ¹ÝµµÃ¼ °Ë»ç¿¡ °ü·ÃµÈ ÀåºñÀÇ ¼³°è ¹× Á¦Á¶¸¦ Áַ»ç¾÷À¸·Î 2003³â 10¿ùºÎÅÍ »ï¼ºÀüÀÚµî ±¹³» ±¼ÁöÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ ¾÷üµé°úÀÇ Çù·Â°ü°è¸¦ À¯ÁöÇÏ¸ç ¼ºÀåÇØ ¿ÔÀ¸¸ç, Â÷¼¼´ë ÀÚµ¿È­ ÀåºñÀÇ °³¹ß¿¡ ÁÖ·ÂÀ» Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.

* ⸳À̳ä
¢Â °æ¿µÀ̳ä : °í°´ÀÌ Áß½ÉÀÌ µÇ°í, Á÷¿øÀÌ ÁÖÀÎÀÌ µÇ¾î ÀϵîǰÁúÀÇ °æ¿µ ½ÇÇö.

 - ǰÁúÀº ±â¾÷ Á¸¸³ÀÇ ±âº»À̸ç, ±×°ÍÀº °í°´ÀÌ ÀÎÁ¤ÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù.
 - Àϵî ǰÁú ½ÇÇöÀº Àϵî ÀÎÀç·ÎºÎÅÍ ³ª¿À´Â °ÍÀÌ´Ù.
 - °í°´À¸·ÎºÎÅÍ ¿Ü¸é ´çÇÏ´Â ±â¾÷Àº ÀÖÀ» ¼ö ¾ø´Ù.

* ºñÀü
¢Â ºñ Á¯ & ¹Ì ¼Ç : ÀÚµ¿È­ ÀåºñÀÇ Ç¥ÁØÀ» ¸¸µé¾î ³ª°¡´Â ±â¾÷ ´Þ¼º.

 - ²÷ÀÓ¾ø´Â ¿¬±¸ °³¹ßÀ» ÅëÇÑ µ¶º¸ÀûÀÎ ±â¼ú È®º¸.
 - ü°èÀûÀÌ°í ¹Ì·¡ ÁöÇâÀûÀÎ ÀåºñÁ¶¸³ ¶óÀÎ ±¸Ãà.
 - ÀÎÀç°æ¿µÀÇ ½ÇÇöÀ» ÅëÇÑ Á¦Ç°ÀÇ Ç°Áú Çâ»ó.


* »ý»êÁ¦Ç°(¼­ºñ½º¼Ò°³)
¢Â ÁÖ¿ä»ý»êǰ¸ñ : 
* Test Head Hinged Manipulator
* Manual Probe Station / Probe Card Á¦ÀÛ °ü·Ã Jig
* IC Test Handler

ÆÔÅØÁÖ½Äȸ»ç´Â ¹ÝµµÃ¼ °Ë»çÀåºñÀÇ °³¹ß ¹× Á¦Á¶¸¦ ÇÏ´Â ¾÷ü·Î¼­
´ç»çÀÇ °æ¸®¾÷¹«¸¦ Ã¥ÀÓÁö°í À̲ø¾î °¥ °¡Á·À» ¸ð½Ê´Ï´Ù.

¿¬Çõ

2003³â 10¿ù : ÆÔ ÅØ ¼³¸³ (°æ±â È­¼º½Ã Å럸é).
2003³â 12¿ù : Hot Chuck Control System °³¹ß.
2004³â 01¿ù : »ï¼ºÀüÀÚ¢ß¿Í B2B°Å·¡°è¾à ü°á.
2004³â 03¿ù : Test Head Manipulator ±¹»êÈ­ °³¹ß.
2004³â 06¿ù : Manual Wafer Probe Station °³¹ß.
2004³â 11¿ù : º»»ç È®Àå ÀÌÀü(°æ±â È­¼º½Ã žÈÀ¾).
2004³â 12¿ù : Probe Card Á¦Á¶ °ü·Ã Àåºñ »ç¾÷ Âø¼ö.
2005³â 01¿ù : Probe Card Check System °³¹ß.
2005³â 03¿ù : Probe Card Sanding Station °³¹ß.
2005³â 07¿ù : »ê¾÷¾ÈÀü°ø´Ü ½ÃÇà Ŭ¸°»ç¾÷Àå ±âÁØ ÀÎÁ¤.
2005³â 08¿ù : ÆÔ ÅØ ÁÖ½Äȸ»ç·Î ¹ýÀÎ Àüȯ(ÀÚº»±Ý : 1¾ï¿ø).
2005³â 09¿ù : ¢ßÅ×½ºÆ®Æ÷½º, ¢ßÇÏÀ̺ñÁ¯½Ã½ºÅÛ°ú Ä«¸Þ¶óÆù ·»Áî¸ðµâ
   Test Handler °øµ¿°³¹ß °è¾à ü°á.       
2006³â 01¿ù : Camera Module Test Handler °³¹ß
2006³â 7¿ù  : Çѱ¹±â¼ú°Å·¡¼ÒÁÖÃÖ ½Å±â¼ú »ç¾÷È­°úÁ¦ °í·Á´ëÇб³¿Í °øµ¿ÃßÁø
2006³â 10¿ù : ¹Ì±¹ Nisene Technology group ¿Í Çѱ¹ ´ë¸®Á¡ °è¾àü°á
2007³â 4¿ù  :  CCM focusing machine¿Í CCM inspection machine °³¹ß, »ï¼ºÅ×Å©À© ³³Ç°
2007³â 5¿ù  : Probe card pin check system °³¹ß
2007³â 5¿ù  : º¥Ãıâ¾÷ ÀÎÁõ
2007³â 6¿ù  : ÆÔÅØ±â¼ú ¿¬±¸¼Ò ¼³¸³
2008³â 2¿ù  : ±¹Á¦ ¹ÝµµÃ¼ ¹Ú¶÷ȸ Ãâǰ
2008³â 6¿ù  : INNOBIZ ÀÎÁõ
2009³â 1¿ù  : ±¹Á¦ ¹ÝµµÃ¼ ¹Ú¶÷ȸ Ãâǰ

º¹¸®ÈÄ»ý

  • ÈÞ¹«/±â³äÀϰÝÁÖÈÞ¹«,¿¬Â÷,¿ùÂ÷,°æÁ¶ÈÞ°¡
  • 4´ëº¸Çè±¹¹Î¿¬±Ý,ÀǷẸÇè,»êÀ纸Çè,°í¿ëº¸Çè
  • ±³À°/¿©°¡Áö¿øÀÚ±â°è¹ßÁö¿ø
  • ±Ù¹«È¯°æ/ÆíÀǽĴë

    ±â¾÷À§Ä¡

    • ÁÖ¼Ò : °æ±â È­¼º½Ã µ¿Åº¸é µ¿Åº»ê´Ü9±æ 9-22
    • ȨÆäÀÌÁö : http://www.pamtek.com
    • °æ±âµµ È­¼º½Ã žÈÀ¾ ¹Ý¿ù¸® 336-6 »ï¼º¹ÝµµÃ¼ È­¼º»ê¾÷´ÜÁö ¾Õ