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20100623 - (ÁÖ)ÇÏÀÌÀ̳ëÅØ ¼³¸³
20121026 - (ÁÖ)³Ø½ºÆ¾À¸·Î »ç¸í º¯°æ(´ëÇ¥ÀÌ»ç ¹ÚÅÂÈÆ ÃëÀÓ)
20121101 - ±â¾÷ºÎ¼³ ¿¬±¸¼Ò ¼³¸³
20140812 - ¹ÝµµÃ¼ Àü°øÁ¤ °Ë»çÀåºñ(Wafer Inspection System) µ¶ÀÏ CNT ùÃâÇÏ
20150824 - SK Hynix DF Inspection ¼º´ÉÆò°¡ °è¾à ü°á
20151000 - AP½Ã½ºÅÛ°ú Àü·«Àû ÅõÀÚÇùÁ¤ ü°á, ÃÖ´ë ÁÖÁÖ º¯°æ (¹ÚÅÂÈÆ -> AP½Ã½ºÅÛ)
20151100 - »ê¾÷ºÎ 2015½Å¼ºÀ嵿·Â»ç¾÷ÀÚ ¼±Á¤ (SKÇÏÀ̴нº)
20160300 - Array Tester »ç¾÷ºÎ ¸Å°¢
20170323 - º»Á¡¼ÒÀçÁö º¯°æ:°æ±âµµ ¼º³²½Ã ºÐ´ç±¸ ÆÇ±³·Î 253, À̳ë¹ë¸® Á¦¾¾µ¿ 102È£(»ïÆòµ¿) -> °æ±âµµ ȼº½Ã µ¿Åº»ê´Ü9±æ 23-12, 8Ãþ(¿¡ÀÌÇǽýºÅÛ µ¿Åº Á¦2»ç¾÷Àå)
20170400 - Á¦82Â÷ IR52 À念½Ç»ó ¼ö»ó (¹Ì·¡Ã¢Á¶°úÇкÎ)
20170500 - Àü¹®¿¬±¸¿ä¿ø º´¿ªÆ¯·Ê¾÷ü ÁöÁ¤
20170600 - ISO9001 Quality Management System ȹµæ
20180400 - °¼Ò±â¾÷ ¼±Á¤(°í¿ë³ëµ¿ºÎ)
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