¿¬Çõ
20070600 - ÁÖ½Äȸ»ç ÇÏÀ̼À ¼³¸³
20070700 - Clean Room È®º¸ ¹× °øÀå ÀÓÂ÷ °è¾à ü°á
20070801 - °æ±âµµ ¾È¼º½Ã ¼¿î¸é ½Å´É¸® 222-2¹øÁö·Î »ç¾÷Àå ÀÌÀü
20070900 - Nand Flash ¿ÜÁÖ ÀÓ°¡°ø ü°á
20071100 - Certified ISO 16949 & Nand Flash Memory Test Service
20080200 - »ý»êÀÚµ¿È½Ã½ºÅÛ ±¸ÃË(MES)
20080300 - EOL Full °øÁ¤ Qual Pass
20080300 - Certified TS 16949 & Hinix Site Qual Pass
20080800 - Dram Memory Test Service
20090400 - DDR3 Memory Test Service
20100100 - Micro SD Card Memory Test Service
20100430 - ÃÖ´ëÁÖÁÖ º¯µ¿: µ¿Áø½ê¹ÌÄÍ ¿Ü 2ÀÎ (ÄÉÀ̾¾ÅØ, ÁÖ¼º¿£Áö´Ï¾î¸µ)
20100600 - Graphic DDR5 Memory Test Service
20101100 - ÀÚº»±Ý 19,500¹é¸¸¿øÀ¸·Î ÁõÀÚ (ÁÖÁÖ¹èÁ¤)
20110900 - °æ±âµµ À¯¸ÁÁß¼Ò±â¾÷ ¼±Á¤
20120405 - º»Á¡À» °æ±âµµ ¾È¼º½Ã ÀÏÁ×¸é ¼µ¿´ë·Î 7280-26 ÀÌÀü
20120500 - ÃÖ´ëÁÖÁÖ 4ÀÎ -> ÃÖ´ëÁÖÁÖ 3ÀÎ (ÁöºÐÀ² °¢ÀÚ 9.68%)(¿ì
20120500 - ¸®±â¼úÅõÀÚ ÁöºÐ ÀϺÎ(5,000ÁÖ) ¸Åµµ : ÁöºÐÀ² 9.37%)
20120800 - Certified ISO 14001 / OHSAS 18001
20120900 - Probe(Wafer) Test Service
20131000 - System IC Test Service
20141200 - ÄÚ½º´Ú½ÃÀå »óÀå
20170300 - ÃÖ´ëÁÖÁÖ º¯µ¿ (µ¿Áø½ê¹ÌÄÍ ¿Ü 2ÀÎ -> ÆÒ¾Æ½Ã¾Æ¼¼¹ÌÄÁ´öÅͼºñ½º
20170300 - )
20170731 - ȸ»ç ÁÖ¼ÒÁö º¯°æ(°æ±âµµ ÀÌõ½Ã->°æ±âµµ ¾È¼º½Ã ¼¿î¸é ½Å´É¸®
20170731 - 222-2)À¯»óÁõÀÚ (Á¦3ÀÚ¹èÁ¤, ÁõÀÚÈÄ ÀÚº»±Ý 170¾ï¿ø)
20190900 - ´ëÇ¥ÀÌ»ç º¯°æ (À强ȣ -> À̼ºµ¿)
20200300 - »óÈ£ º¯°æ (ÁÖ½Äȸ»ç ÇÏÀ̼À -> ÁÖ½Äȸ»ç ¿¡ÀÌÆÑÆ®)
20200600 - Á¦2°øÀå Áذø (ÃæºÏ À½¼º±º)
20210600 - ÆÇ±³ ¿µ¾÷»ç¹«¼Ò °³¼Ò (System IC ÈİøÁ¤ »ç¾÷ ¿µ¾÷ ´ã´ç)
20211115 - ÃÖ´ëÁÖÁÖ º¯µ¿ (ÆÒ¾Æ½Ã¾Æ¼¼¹ÌÄÁ´öÅͼºñ½º -> ¹ÂÃò¾ó±×·Î¿ì¾²)
20220800 - ¿µ¾÷¾ç¼öµµ °è¾à ü°á (¿¡ÀÌÆ¼¼¼¹ÌÄÜ PKG ¿µ¾÷ ¾ç¼ö)
20221000 - ¿¡ÀÌÆ¼¼¼¹ÌÄÜ ÆÐŰ¡ »ç¾÷(ÁøÃµ°øÀå) ¾ç¼ö
20250500 - º¥Ã³±â¾÷ ÀÎÁõ
20251002 - (ÁÖ)±Û·Î¿ø¾ÆÀÌ¿£¾¾ º¸ÅëÁÖ ÁöºÐ 30.1% Ãëµæ