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±â¾÷À̳ä :

°í°´ÀÇ Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ ½Å·Ú¼º Æò°¡(°³¹ß) ¹× ǰÁú º¸Áõ(¾ç»ê) Support¿¡ ´ëÇÑ ÁúÀû, ¾çÀû ¸¸Á·À» ÅëÇØ ´ë½ÂÀû ¹ßÀüÀ» Ãß±¸



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±â¾÷ºñÀü :
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ÁÖ¿ä»ç¾÷ :
¤ýOperation

¡¡- Wafer Test & Final Test

¡¡- Burn-In Test & EOL Service

¡¡- Backend Turnkey Solution




¤ýEngineering

¡¡- Test Program Development

¡¡- Product Characterization

¡¡- Test Time Reduction

¡¡- Engineering Data Analysis & Yield Improvement

¡¡- Probe Card & Hi-Fix Board Solution


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2014 (ÁÖ)¿¡ÀÌÆ¼¼¼¹ÌÄÜ ¹ýÀÎÅëÇÕ

2013 (ÁÖ)¼¼¹ÌÅØ Àμö

2011 ÄÚ½º´Ú »óÀå

2010 5õ¸¸ºÒ ¼öÃâÀÇ Å¾ ¼ö»ó

2009 ÇÏÀ̴нº¹ÝµµÃ¼ DDR3 Memory Final TEST Service ½ÃÀÛ
    »ï¼ºÀüÀÚ T2000 TEST Service ½ÃÀÛ (MCU, A/P)
    »ï¼ºÀüÀÚ ¹«¼±»ç¾÷ºÎ, ÈÄÁöÂê MCP TEST Service ½ÃÀÛ

2008 Power Management IC TEST Service ½ÃÀÛ (ETS-364B)
    »ï¼ºÀüÀÚ System LSI Wafer Test Service ½ÃÀÛ

2007 ISO14001 ÀÎÁõ ȹµæ
    ´öÆò »ç¾÷Àå ½ÅÃà

2006 ÇÏÀ̴нº¹ÝµµÃ¼ DDR2 Memory Final TEST Service ½ÃÀÛ
    »ï¼ºÀüÀÚ System LSI Final TEST Service ½ÃÀÛ
    ÇÁ·ÎÅ×½ºÆ® ÀμöÇÕº´
    TS16949 ÀÎÁõ ȹµæ

2005 Fabless¾÷ü¿ÍÀÇ Àü·«Àû Turnkey service ÁøÇà 

2004 QS-9000 ÀÎÁõ ȹµæ
    ÇÏÀ̴нº SDRAM Final TEST Service ½ÃÀÛ
    Mixed Signal Test Service Ramp Up

2003 ÇÏÀ̴нº¹ÝµµÃ¼ SRAM / PSRAM Final Test Service ½ÃÀÛ
    ¸Å±×³ªÄ¨¹ÝµµÃ¼ Image Sensor Wafer Test Service ½ÃÀÛ

2002 Mixed Signal TEST Service ½ÃÀÛ
    ISO-9000 ÀÎÁõ ȹµæ

2001 È¸»ç ¼³¸³
    Memory TEST Service ½ÃÀÛ

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2023 265¾ï 5,506¸¸¿ø ¡é 114¾ï 2,203¸¸¿ø ¡é- 491¾ï 5,542¸¸¿ø ¡é
2022 762¾ï 7,521¸¸¿ø 170¾ï 4,655¸¸¿ø - 389¾ï 5,178¸¸¿ø

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  • ȨÆäÀÌÁö : http://www.atsemi.com
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