회사소개
사단법인 한국 반도체 테스트 학회는 메모리와 비메모리를 포함하는 반도체의 테스트와 그 응용에 관하여 여러분야간 상호 연계를 통한 연구, 발전, 보급에 공헌하기 위해 설립되었습니다. 이를 위하여 본 학회는 학계, 연구기관, 산업계, 행정부 등 관련된 여러 기관의 상호 정보교환의 장을 제공하며 테스트의 기술적 발전과 학술적 발전과 실용적 기여도를 높이는데 중추적인 역할을 담당하고자 합니다.
이를 통해 국내 반도체 테스트 기술을 세계 유수의 선진기술과 견주어 충분한 경쟁력을 확보하도록 하고, 세계 최고의 반도체 생산국으로서 국제 경쟁력 강화 및 생산성 향상에 기여 할 수 있도록 하고자 합니다.
연혁
2000.07. 06 제1회 시스템 IC 테스팅 Workshop (한양대학교 안산캠퍼스)
200107. 02 제2회 시스템 IC 테스팅 Workshop (한양대학교 안산캠퍼스)
2002.05. 17 시스템 IC 테스팅 Workshop을 학회로 확대하여 개최키로 함
제3회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
2003.06. 27 제4회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
2004.06. 03 제5회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
2005.07. 01 제6회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
2006.06. 30 제7회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
2007.06. 29 제8회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
12. 28 사단법인 한국 반도체 테스트 학회 설립위한 창립총회 개최 초대회장
연세대학교 강성호 교수로 추대
2008.02. 13 산업자원부 승인
06. 25 제9회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
11. 15 2008 테스트 기술 워크샵 (숭실대학교)
2009. 06. 24 제10회 한국 테스트 학술대회(서울교육문화회관)
11. 11 2009 테스트 기술 워크샵 (한양대학교)
2010. 06. 29 제11회 한국 테스트 학술대회 (서울교육문화회관)
10. 22 2010 테스트 기술 워크샵 (양지파인리조트)
2011. 06. 22 제12회 한국 테스트 학술대회 (교육문화회관)
09. 07 테스트 효율화를 위한 DFx 기술 (서울대학교 융합기술연구원 대강당)
11. 16 2011 테스트 기술 워크샵 (양지파인리조트)
