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¹ÝµµÃ¼Å×½ºÆ®Àåºñ - DC TESTER, FRIGATE, HI FIX
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2007.01 ¹ýÀÎ ¼³¸³(´ëÇ¥ÀÚ : ÇÑÃæÀ²)
2008.04 SSD TESTER °³¹ß
2008.12 ±â¾÷ºÎ¼³¿¬±¸¼Ò ¼³¸³(Çѱ¹»ê¾÷±â¼úÁøÈïÇùȸ ÀÎÁõ, 12.09)
2008.12 ƯÇãÃâ¿ø(PCI ÀͽºÇÁ·¹½º ¹ö½º ±â¹Ý Å×½ºÅÍ ÀÎÅÍÆäÀ̽ºÀåÄ¡)
2008.12 ƯÇãÃâ¿ø(´ÙÁß ¼ÒÄÏ±×·ì ±â¹ÝÀÇ µð¹ÙÀ̽º Å×½ºÆ® ¹æ¹ý)
2009.02 ƯÇãÃâ¿ø(FPGAÄÁÆ®·Ñ·¯ ±â¹Ý Å×½ºÅÍ ÀÎÅÍÆäÀ̽º ÀåÄ¡)
2009.02 ƯÇãÃâ¿ø(SSD Å×½ºÆ®¿ë žÀçÀåÄ¡/µî·Ï¹øÈ£)
2009.03 Áß¼Ò±â¾÷ º¥Ã³±â¾÷ µî·Ï(±â¼úº¸Áõ±â±Ý)
2009.03 ƯÇãÃâ¿ø(DUTÅ×½ºÆ® ½Ã½ºÅÛ)
2009.04 ƯÇãÃâ¿ø(½ºÅ丮Áö Å×½ºÅÍ ¹× SSD µð¹ÙÀ̽º)
2009.07 ƯÇãÃâ¿ø(SSD ¼ÒÄÏÀåÄ¡)
2009.09 LED TESTER °³¹ß ¹× CLI Àåºñ ¾ç»ê(MANUAL, AUTO)
2010.11 °øÀåµî·Ï
2012.02 UFS TESTER °³¹ß
2013.04 EST3000 UFS1.1 ¾ç»ê
2014.03 PCIE MAPPING SYSTEMÀ» SESS¿¡ ¼öÃâ
2014.12 AUTO LI(SST-100 TESTER)¸¦ SCS¿¡ ¼öÃâ
2015.02 AUTO LI(SST-200 TESTER)¸¦ »ï¼ºÀüÀڢ߿¡ ³³Ç°
2015.02 »ï¼ºÀüÀÚ¢ß ¹× SCS,SESS¿Í Çù·Â¾÷ü ÁöÁ¤
2017.06 ´ëÇ¥À̻纯°æ(½É¼ö¿¬)
2017.03 GEN4 °³¹ß